关于G120调试可能大家是熟悉的不能再熟悉了。但是有两个参数应用的问题看似很简单,但是搞不明白,就一头雾水,一旦发现了解决方法,又觉得是如此的简单。
***个参数,P96,它是控制方式的授权参数,手册里讲的也很清晰。但是,实际应用中,我们很容易忽略这个参数的存在,所以,也就不太关注它了。但是一旦出现问题,又很少想起它的存在和作用。昨天,我接到现场调试人员打来的电话,说现场这个G120系统的参数P1300改不了。P1300 = 2改成21不让改。我问了一下当前的状态。首先我想到的是,是不是在启动(在线)状态?是不是在快速调试状态?是不是STARTER的控制面板在激活状态?现场告诉我都不是。我当时就有点懵。都不是?闹鬼了?现场状态都对,就是不许改参数?不应该呀。突然想起了P96,这个参数默认值不是0。是我***近发现的。我就问,P96 = ?,现场回复等于2。我告诉他改成0。改成P96 = 0,问题就解决了。为什么?因为P96 = 0是***模式。P1300可以从0 - 23任意设置。
第二个参数,P320。励磁电流这个参数在SINAMICS以前,要经常人为干预。手动建立电机的控制模型那时挺时尚的。显得好那种。自从使用SINAMICS产品以后。关于电机的励磁电流这个参数很少关注,连看都不看。因为在进行调试的辨识和优化中,都是内部自动计算确定的。也从来没发现有什么不妥。但是,昨天调试大惯性比的传动系统,问题来了。调试结束以后,带着大惯性的辊筒空转,当运行在某一个转速下,把传动系统由电动允许变成电动禁止状态(也就是P1530 = 电机额定功率变成0),传动轴应该失去动力,转速下降直至停止转动。可是现场却是电机轴停不下来,始终有一个动力在驱动辊筒运转。检查r79 = 0,检查r32 = -0.1左右。差异。电机没有在电动状态呀?为什么会自己转?闹鬼了?装置参数存在BUG?再想想,又看r27电流在8个多安培,嗯?电机是5.5kW-8极电机,额定电流是14.4A,8个多安培的空载电流,够大呀。于是马上想到了励磁参数,一看P320果然等于近似的空载电流设置。将其修改成电机额定电流30%左右。问题解决。这是啥情况呀? 这说明,调试时,参数设置有问题了。励磁电流过大,导致空载运行励磁电流处于过饱和状态。
开关电源对运算放大器的影响及解决方法
一般模拟量信号进入ADC芯片之前,要利用运算放大器进行信号调理,以提供必要的电平变换、滤波、ADC芯片驱动等等。运算放大器与ADC相接口时,容易受到电源的影响,从而也影响ADC芯片采集的稳定。图2是运算放大器与ADC的典型接口图。
图2:运算放大器与ADC的典型接口图
大多ADC芯片内部的模拟输入端都具有一个采样电容Cin,电阻R1对运放输出限流,数倍于采样电容的陶瓷电容C1使得开关SW合上的瞬间,通过C1迅速给采样电容Cin充电。R1、C1的具体数值,与运放的稳定性、建立时间、ADC采样时间、需要的采样精度有关。
这里要指出的是,在上述过程中,运放的电源也会起很大的作用。在运放对电容充电期间,瞬间需要较大的电流,而开关电源的负载响应时间不够,将造成比较大的电源纹波,影响运放的输出。比如采用C1=10Cin=250pF,则当SW从别的通道(假设为-5V)切到AI0通道(假设+5V)时,Cin从-5V切换到C1上的电压+5V,C1迅速给Cin充电,终电压为(5V×10-5V)/11=4.09V,运放输出要从5V变到4.09V,R1太小容易带来运放输出稳定性问题,同时也会对运放输出电流带来冲击,影响电源电压。
特别是在采用电荷泵给运放-VCC提供小的负电源时,电荷泵输出电压随负载增大而降低的特性使得效果更加明显。比较发现,运放采用直流线性稳压电源时,12位的ADC采集结果很稳定,结果变动可达1LSB以下;相比之下,采用电荷泵器件时,如果电荷泵输出没有大的滤波,ADC采集结果晃动可达3LSB。如果增大R1为100Ω时,C1=10Cin,不考虑运放输出电阻时,需要运放输出电流的大值为(5-4.09)V/100Ω=9.1mA),小于一般运放的大输出电流。但R1太大,将明显降低ADC所能采集到的信号频率,在ADC对该通道“跟踪”期间,运放无法完成对C1和Cin充电,使得该次采样与运放输入端电压相差较大,会造成谐波失真。
解决办法除了前文描述的以外,同时还可以采用以下方法:
1.运放的正负电源对地除并接一个10~22μF大电容以减少电源纹波外,再并接一个0.1~1μF的小陶瓷电容,以通过0.1~1μF高频去耦电容的作用,避免负载电容的瞬间充电对电源的影响。效果类似于数字芯片电源和地之间加的去耦电容。
2.增大图2中ADC前端电阻R1,减小运放的输出电流,能起到一定的滤波作用。当然R1大的话,将衰减通过运放的信号。
开关电源对参考源的影响及解决方法
有的ADC芯片要外部提供参考源,这时外部参考源的供电,也需要参照前文所述的处理方法,采取在输入端加滤波等措施。同时注意,对连续逼近(SAR)型ADC芯片,如TLC2543芯片,采样、保持后的内部每次电压转换,都需要将采集电压和参考源的1/2、1/4、1/8等组合相比较,以确定相应n位ADC结果的第(n-1)位、第(n-2)位等,参考源的分压是通过电容实现的。
这样,对应转换每位均需要将参考源VREF通过开关接到相应分压电容上,对参考源而言,将看到一个变化的容性负载,从而产生了上文所说的问题。如果ADC芯片内部没有参考源缓冲电路,而外部参考源的容性负载能力又不够时,需要在外部参考源输出端,串一个缓冲器,再通过一个RC电路接到ADC芯片的参考源输入端。其它处理方法,同上文所述,如在外部参考源的电源端,并接一个10~22μF大电容和一个0.1~1μF的小陶瓷电容等。
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