位置检测装置是数控机床的重要组成部分。在闭环、半闭环控制系统中,它的主要作用是检测位移和速度,并发出反馈信号,构成闭环或半闭环控制。 闭环数控机床的加工精度在很大程度上是由位置检测装置的精度决定的,在设计数控机床进给伺服系统,尤其是高精度进给伺服系统时,必须精心选择位置检测装置。 数控机床对检测装置的要求如下: (1)工作可靠,抗干扰能力强; (2)满足精度和速度的要求; (3)易于安装,维护方便,适应机床工作环境; (4)成本低。 位置检测装置按工作条件和测量要求不同,有下面几种分类方法: 一、直接测量和间接测量 1.直接测量 直接测量是将直线型检测装置安装在移动部件上,用来直接测量工作台的直线位移,作为全闭环伺服系统的位置反馈信号,而构成位置闭环控制。其优点是准确性高、可靠性好,缺点是测量装置要和工作台行程等长,所以在大型数控机床上受到一定限制。 2.间接测量 它是将旋转型检测装置安装在驱动电机轴或滚珠丝杠上,通过检测转动件的角位移来间接测量机床工作台的直线位移,作为半闭环伺服系统的位置反馈用。 优点是测量方便、无长度限制。缺点是测量信号中增加了由回转运动转变为直线运动的传动链误差,从而影响了测量精度。 二、数字式测量和模拟式测量 1.数字式测量 它是将被测的量以数字形式来表示,测量信号一般为脉冲,可以直接把它送到数控装置进行比较、处理。信号抗干扰能力强、处理简单。 2.模拟量测量 它是将被测的量用连续变量来表示,如电压变化、相位变化等。它对信号处理的方法相对来说比较复杂。 三、增量式测量和**式测量 1.增量式测量 在轮廓控制数控机床上多采用这种测量方式,增量式测量只测相对位移量,如测量单位为0.001mm,则每移动0.001mm就发出一个脉冲信号,其优点是测量装置较简单,任何一个对中点都可以作为测量的起点,而移距是由测量信号计数累加所得,但一旦计数有误,以后测量所得结果完全错误。 2.**式测量 **式测量装置对于被测量的任意一点位置均由固定的零点标起,每一个被测点都有一个相应的测量值。测量装置的结构较增量式复杂,如编码盘中,对应于码盘的每一个角度位置便有一组二进制位数。显然,分辨精度要求愈高,量程愈大,则所要求的二进制位数也愈多,结构就愈复杂。 |
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灵活性大:可改变和扩展其功能。 通用性强:硬件采用模块化设计,易于扩展,改变软件可适应不同需求。 可靠性高:采用大规模和超大规模集成电路;程序被检查后才被调用,保证加工过程中的故障停机。 功能强大:多功能、可以完成复杂零件的一次成形。 使用维修方便:内置自诊断程序,软件检查程序。 通信功能:例如在DNC、FMS、CIMS系统中,系统间要求通信联系。 |
1 个转换触点
A | B 1) | -- | C |
-- | D | E 1) | F |
G | |||
符号说明 |
1) 延时时间开始后,端子 B 处的新控制信号会重置动作时间为零(可重触发)。
注:
对于 7PV1508-1A 多功能定时继电器,在前面的旋转选择开关旁印有标识字母 A 到 G。相关功能采用设备侧面的柱形图表示。
2 个转换触点
A | B 1) | C | D |
F | H | I | |
2 个 NO 触点 | |||
-- 7PV1578 | |||
符号说明 |
1) 延时时间开始后,端子 B 处的新控制信号会重置动作时间为零(可重触发)。
2) 对于 7PV1578,星-三角功能不需要触点 16 和 26。
注:
对于 7PV1508-1B 多功能定时继电器,在前面的旋转选择开关旁印有标识字母 A 到 D、F、H 和 I。相关功能采用设备侧面的柱形图表示。
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